9031.41.00
Zur Inspektion von Halbleiterwafern oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zur Inspektion von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) verwendet werden
Dieser Code umfasst Instrumente und Geräte, die zur Inspektion von Halbleiterwafern, -bauelementen oder Photomasken/Retikeln, die in deren Herstellung verwendet werden, dienen. Diese Waren, die im Kapitel 90 für Mess- und Prüfgeräte klassifiziert sind, kommen in der Regel zollfrei in die USA, insbesondere wenn sie aus Standardhandelspartnern oder förderberechtigten FTA-Ländern stammen.

HTS-Medien
Dieser Code fällt in die breitere Kategorie von optischen, fotografischen, cinematografischen, messenden, prüfenden, Präzisions-, medizinischen oder chirurgischen Instrumenten und Apparaten. Speziell deckt 9031.41.00 Instrumente ab, die zur Inspektion von Halbleiterwafern, Bauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder den Photomasken und Retikeln, die bei deren Herstellung verwendet werden, dienen. Es gibt eine weitere Unterteilung, um festzulegen, ob das Instrument zur Inspektion von Photomasken/Retikeln (9031.41.00.20), spezifisch für Wafer (9031.41.00.40) oder für andere Waferinspektionszwecke (9031.41.00.60) bestimmt ist. Bei der Meldung wählen Sie das statistische Suffix, das den Typ des importierten Inspektionsinstruments am genauesten widerspiegelt.
| Kapitel | Kapitel 90: Optical, photographic, cinematographic, measuring, checking, precision, medical or surgical instrume |
| Abschnitt | Abschnitt XVIII: Optical, Photographic, Cinematographic, Measuring, Checking, Precision, Medical or Surgical Instrume |
Zollübersicht
Schnellansicht der verfügbaren Zollinformationen für diesen HTS-Code.
Free
Standard trade partners (NTR)
Nicht verfügbar
Eligible FTA or preference programs
Der allgemeine Zollsatz für den HTS-Code 9031.41.00 und seine Unterteilungen (9031.41.00.20, 9031.41.00.40 und 9031.41.00.60) ist Frei, was bedeutet, dass für Waren, die unter diesen Code fallen, aus Standardhandelspartnern kein Zoll erhoben wird. Es sind keine Sonderzollsätze angegeben, aber die Berechtigung für Freihandelsabkommen oder andere Präferenzprogramme kann reduzierte oder eliminierte Zölle bieten—die Einzelheiten hängen vom Ursprungsland und dem spezifischen Abkommen ab. Für diesen HTS-Code sind keine Meldeeinheiten angegeben. Diese Zollstruktur gilt einheitlich für alle Unterteilungen, was bedeutet, dass dieselbe Zollbehandlung gilt, unabhängig davon, ob der Artikel zur Inspektion von Fotomasken, Wafern oder anderen Halbleiterkomponenten bestimmt ist.
Dienstgrad (Spalte 2): 50%
Hilfe bei
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Code-Unterteilungen
9031.41.00.20
Mess- oder Prüfgeräte für Instrumente, Apparate und Maschinen, die nicht anderweitig in diesem Kapitel spezifiziert oder enthalten sind; Profilprojektoren; Teile und Zubehör davon: > Sonstige optische Instrumente und Apparate: > Zur Inspektion von Halbleiterwafern oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zur Inspektion von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) verwendet werden > Zur Inspektion von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen verwendet werden
9031.41.00.40
Mess- oder Prüfgeräte, -vorrichtungen und -maschinen, die nicht anders in diesem Kapitel genannt oder enthalten sind; Profilprojektoren; Teile und Zubehör davon: > Sonstige optische Instrumente und Vorrichtungen: > Zur Inspektion von Halbleiterwafern oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zur Inspektion von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) verwendet werden > Zur Inspektion von Halbleiterwafern oder -bauelementen: > Für Wafer
9031.41.00.60
Mess- oder Prüfgeräte für Instrumente, Apparate und Maschinen, die nicht anderweitig in diesem Kapitel spezifiziert oder enthalten sind; Profilprojektoren; Teile und Zubehör davon: > Sonstige optische Instrumente und Apparate: > Zur Inspektion von Halbleiterwafern oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zur Inspektion von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) verwendet werden > Zur Inspektion von Halbleiterwafern oder -bauelementen: > Sonstige
Kapitel- & Abschnittshinweise
Kapitelhinweise
Abschnittshinweise
Neueste Aktualisierung
Zuletzt aktualisiert
November 15, 2025
Revised every January & July
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