9031.41.00
Pour l'inspection de plaquettes ou de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés) ou pour l'inspection de photomasks ou de réticules utilisés dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés)
Ce code couvre les instruments et appareils utilisés pour inspecter les tranches de semi-conducteurs, les dispositifs ou les photomasks/réticules utilisés dans leur fabrication. Classés dans le Chapitre 90 pour les instruments de mesure et de contrôle, ces marchandises entrent généralement aux États-Unis sans droits de douane, en particulier celles provenant de partenaires commerciaux standards ou de pays éligibles à l'ALE.

Médias HTS
Ce code relève de la catégorie plus large des instruments et appareils optiques, photographiques, cinématographiques, de mesure, de contrôle, de précision, médicaux ou chirurgicaux. Plus spécifiquement, le 9031.41.00 couvre les instruments utilisés pour inspecter les tranches de semi-conducteurs, les dispositifs (y compris les circuits intégrés) ou les photomasks et réticules utilisés dans leur fabrication. Des sous-catégories existent pour spécifier si l'instrument est destiné à l'inspection des photomasks/réticules (9031.41.00.20), des tranches de semi-conducteurs spécifiquement pour les tranches (9031.41.00.40), ou à d'autres fins d'inspection de tranches (9031.41.00.60). Lors du déclaration, choisissez le suffixe statistique qui reflète le plus précisément le type d'instrument d'inspection importé.
| Chapitre | Chapitre 90 : Optical, photographic, cinematographic, measuring, checking, precision, medical or surgical instrume |
| Section | Section XVIII : Optical, Photographic, Cinematographic, Measuring, Checking, Precision, Medical or Surgical Instrume |
Aperçu des droits de douane
Vue rapide des informations disponibles sur les droits de douane pour ce code HTS.
Free
Standard trade partners (NTR)
Non disponible
Eligible FTA or preference programs
Le taux de droit général pour le code HTS 9031.41.00 et ses subdivisions (9031.41.00.20, 9031.41.00.40 et 9031.41.00.60) est Libre, ce qui signifie qu'aucun droit n'est appliqué aux marchandises relevant de ce code en provenance de partenaires commerciaux standards. Aucun taux spécial n'est spécifié, mais l'éligibilité aux accords de libre-échange ou à d'autres programmes de préférence peut offrir des droits réduits ou éliminés—les détails dépendraient du pays d'origine et de l'accord spécifique. Il n'y a pas d'unités de déclaration spécifiées pour ce code HTS. Cette structure de droits s'applique uniformément à toutes les subdivisions, ce qui signifie que le même traitement douanier s'applique que l'article soit destiné à l'inspection de photomasks, de wafers ou d'autres composants semi-conducteurs.
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Subdivisions du code
9031.41.00.20
Instruments ou appareils de mesure ou de contrôle, d'appareils et de machines, non spécifiés ou compris ailleurs dans le présent chapitre ; projecteurs de profil ; pièces et accessoires de ceux-ci : > Autres instruments et appareils optiques : > Pour l'inspection de tranches ou de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés) ou pour l'inspection de masques ou de réticules photographiques utilisés dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés) > Pour l'inspection de masques ou de réticules photographiques utilisés dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs
9031.41.00.40
Instruments, appareils et machines de mesure ou de contrôle, non spécifiés ou compris ailleurs dans le présent chapitre ; projecteurs de profil ; pièces et accessoires de ceux-ci : > Autres instruments et appareils optiques : > Pour l'inspection de tranches ou de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés) ou pour l'inspection de masques ou de réticules photomask utilisés dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés) > Pour l'inspection de tranches ou de dispositifs semi-conducteurs : > Pour les tranches
9031.41.00.60
Mesure ou vérification d'instruments, d'appareils et de machines, non spécifiés ou inclus ailleurs dans ce chapitre ; projecteurs de profil ; pièces et accessoires de ceux-ci : > Autres instruments et appareils optiques : > Pour l'inspection de tranches ou de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés) ou pour l'inspection de photomasks ou de réticules utilisés dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs (y compris les circuits intégrés) > Pour l'inspection de tranches ou de dispositifs semi-conducteurs : > Autres
Notes de chapitre et de section
Notes de chapitre
Notes de section
Dernière mise à jour
Dernière mise à jour
November 15, 2025
Revised every January & July
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