9031.41.00
Para inspecionar wafers ou dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados) ou para inspecionar fotomáscaras ou retículas usadas na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados)
Este código abrange instrumentos e aparelhos usados para inspecionar wafers, dispositivos semicondutores ou fotomáscaras/retículas usadas em sua fabricação. Classificados no Capítulo 90 para instrumentos de medição e verificação, esses bens geralmente entram nos EUA isentos de impostos, particularmente aqueles provenientes de parceiros comerciais padrão ou países elegíveis para Acordos de Livre Comércio (FTA).

Mídia HTS
Este código se enquadra na categoria mais ampla de instrumentos e aparelhos ópticos, fotográficos, cinematográficos, de medição, de verificação, de precisão, médicos ou cirúrgicos. Especificamente, 9031.41.00 abrange instrumentos usados para inspecionar wafers semicondutores, dispositivos (incluindo circuitos integrados) ou as máscaras fotográficas e retículas usadas em sua fabricação. Existe uma subdivisão adicional para especificar se o instrumento é para inspecionar máscaras fotográficas/retículas (9031.41.00.20), wafers semicondutores especificamente para wafers (9031.41.00.40) ou outros fins de inspeção de wafers (9031.41.00.60). Ao relatar, escolha o sufixo estatístico que reflete com mais precisão o tipo de instrumento de inspeção que está sendo importado.
| Capítulo | Capítulo 90: Optical, photographic, cinematographic, measuring, checking, precision, medical or surgical instrume |
| Seção | Seção XVIII: Optical, Photographic, Cinematographic, Measuring, Checking, Precision, Medical or Surgical Instrume |
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Free
Standard trade partners (NTR)
Não disponível
Eligible FTA or preference programs
A alíquota geral de imposto para o código HTS 9031.41.00 e suas subdivisões (9031.41.00.20, 9031.41.00.40 e 9031.41.00.60) é Livre, o que significa que nenhum imposto é cobrado sobre mercadorias que se enquadram neste código de parceiros comerciais padrão. Não há taxas especiais especificadas, mas a elegibilidade para Acordos de Livre Comércio ou outros programas de preferência pode oferecer impostos reduzidos ou eliminados—os detalhes dependeriam do país de origem e do acordo específico. Não há unidades de relatório especificadas para este código HTS. Esta estrutura de imposto se aplica uniformemente a todas as subdivisões, o que significa que o mesmo tratamento fiscal se aplica quer o item seja para inspecionar fotomáscaras, wafers ou outros componentes semicondutores.
Taxa de Serviço (Coluna 2): 50%
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Subdivisões de Código
9031.41.00.20
Instrumentos, aparelhos e máquinas de medição ou verificação, não especificados ou incluídos em outro lugar deste capítulo; projetores de perfil; peças e acessórios destes: > Outros instrumentos e aparelhos ópticos: > Para inspeção de wafers ou dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados) ou para inspeção de fotomáscaras ou retículos usados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados) > Para inspeção de fotomáscaras ou retículos usados na fabricação de dispositivos semicondutores
9031.41.00.40
Medição ou verificação de instrumentos, aparelhos e máquinas, não especificados ou incluídos em outro lugar deste capítulo; projetores de perfil; peças e acessórios destes: > Outros instrumentos e aparelhos ópticos: > Para inspeção de wafers ou dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados) ou para inspeção de fotomáscaras ou retículos usados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados) > Para inspeção de wafers ou dispositivos semicondutores: > Para wafers
9031.41.00.60
Medição ou verificação de instrumentos, aparelhos e máquinas, não especificados ou incluídos em outro lugar deste capítulo; projetores de perfil; peças e acessórios destes: > Outros instrumentos e aparelhos ópticos: > Para inspeção de wafers ou dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados) ou para inspeção de fotomáscaras ou retículos usados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo circuitos integrados) > Para inspeção de wafers ou dispositivos semicondutores: > Outros
Notas de Capítulo e Seção
Notas de Capítulo
Notas de Seção
Última atualização
Última atualização
November 15, 2025
Revised every January & July
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